光纤的缺点
弯曲不敏感多模光纤的优缺点
优
vs
缺
最近有人问我一个问题：为什么不能在测试线中使用弯曲不敏感多模光纤(bimmf)？其论据是，非bimmf(例如“传统”光纤)变得越来越难购买，安装方需要灵活地购买现货。而且，一直存在更改iec测试标准的要求：不再强制要求在测试线中使用非bimmf。让我们来仔细回顾一下这个问题，并探讨这样做的后果。
首先，一些技术或其他相关事实：
1.fluke networks提供专门设计用于与多模电缆测试设备配合使用的多模测试参考跳线——所有这些线缆都使用非bimmf；光纤供应来源不是问题。
2.其他测试厂商将非bimmf线专门用于测试跳线，其光纤供应商没有任何问题。
3.为了使用led实现正确的发射条件（例如，环形通量），必须剥离更高阶模式——实际上，只可能采用非bimmf。
4.由于在玻璃中传播存在泄漏模式，bimmf的长度依赖性与数值孔径和纤芯直径有关。最终结果是针对已安装电缆的衰减测量，可能与使用非bimmf发射测试线时的测量不同。
5.因为还需要测量由于泄漏模式导致的远场，所以在bimmf上难以验证环形通量的合规性，而在非bimmf上只有近场。换句话说，发射条件沿光纤变化。
6.对于目前设计用于环形通量的测试设备，不能使用现成的bimmf或非bimmf，除非具有专门的实验室设备进行近场发射测量。
大约8年前，50/125 μm 弯曲不敏感多模光纤(bimmf) 推出。在此之前，主要的光纤厂商都在生产非bimmf。在过去几年间，随着bimmf的普及，一些厂商停止生产非bimmf。这对已安装布线有好处，可以减少由于弯曲造成的工艺问题，这使得tia、iec和iso/iec测试标准与行业发展方向不符。为了从多模光纤中实现适当的发射条件(例如环形通量)，需要非bimmf，这是行业标准仍然强制要求的。
由于标准是由各类专家共同撰写的，所以没有人会被排除在外。测试标准使测试设备厂商承担了大部分负担，以符合标准文档中的具体要求。有时候，电缆厂商、光纤厂商和测试线厂商可能与测试供应商的符合标准的要求不一致。
根据正在修订中的iec 61280-4-1：已安装多模光纤电缆工厂的衰减测量，以下是目前可能发生变化的针对接入光纤的说明(lspm——光源/功率计；附件f是环形通量要求)：
当使用lspm测试bimmf或非bimmf布线时，应使用满足附录f中定义的发射条件要求的非bimmf发射线。选择测试线时需要额外注意。对于优化测试，应使用由测试设备供应商提供或推荐的测试线。
为了保持合适的发射条件，测试设备厂商采用了不同的实施策略。一种方法是在外部测试线上使用在工厂调谐的卷轴。另一种方法调节光源内的发射，并在光源的闷头处实现发射条件。然后将外部测试线耦合至闷头，不使用卷轴。然而，这种“形式上透明的”测试线必须具有非常严格的光学和物理性能，以保持合适的发射。无论采用何种实施方法，都需要非bimmf。
如果使用采用现成bimmf的测试线进行电缆和光纤测试，则会发生一些事情。首先，认证测试很可能不被接受——很难显示环形通量和标准合规性。其次，如果不使用环形通量发射，实测链路衰减可能导致链路测量失败，尤其是在损失预算很小的情况下。
所以即使数据通信世界越来越多地采用bimmf，但是标准委员会已经确定测试者需要坚持使用非bimmf测试线。
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